コネクタの評価・振動試験は、この1台におまかせ。ハンマリング微加振装置
研究論文・学会発表
ハンマリング微加振装置やその基礎となる振動・衝撃に関する研究論文・学会発表をご紹介します。
研究論文(Monograph)
学会名 | タイトル | 公開日 | 著者 | 掲載 |
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電子情報通信学会 | プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法
copyright©2013 IEICE |
2013/10/10 | 和田真一(TMCシステム)、澤孝一郎(日本工大) | 電子情報通信学会論文誌 C Vol.J96-C No.11 pp.409-418 IEICE Transactions Online |
電子情報通信学会 | Evaluation of Basic Dynamical Parameters in Printed Circuit Board - Mass, Force, and Acceleration -
copyright©2013 IEICE |
2013/9/1 | 和田真一(TMCシステム)、澤孝一郎(日本工大) | IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E96-C No.9 pp.1165-1172 IEICE Transactions Online |
ICEC | Degradation Phenomena of Electrical Contacts Using Hammering Oscillating Mechanism and Micro-sliding Mechanism--Oscillating Amplitude, Natural Frequency and Damping Ratio caused by the Mechanisms
copyright©2012 ICEC |
2012/5/14 | Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology) | ICEC, Beijing, China, pp375-381, 2012 IEICE Transactions Online |
IEEE | Degradation phenomena of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism Contact resistance and its model
copyright©2011 IEEE |
2011/9/11 | Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology) | IEEE Holm Conf., Minneapolis, MN, USA, pp.309-316, 2011 IEICE Transactions Online |
IEEE | A study of Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by Hammering Oscillating Mechanism Data and modeling
copyright©2010 IEEE |
2010/10/4 | Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology) | IEEE Holm Conf., Charleston, SC, USA, pp340-347, 2010 IEICE Transactions Online |
ICEC |
ICEC | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillatingmechanism copyright©2008 ICEC |
2008/6/9 | Shin-ichi Wada et al.(TMC System Co. Ltd.,),Koichiro Sawa et al.(Keio University) | ICEC, Saint-Malo, France, pp.266-271, 2008 IEICE Transactions Online |
その他の研究論文・学会発表(Other academic activities)
学会名 | タイトル | 発表年月日 | 著者 |
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機構デバイス研究会(EMD) | An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board by a Hammering Oscillation Mechanism -- Natural Frequency -- | 2015/11/05 | 和田真一・越田圭治(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board (4) -- A theoretical method for the responses of the oscillation system by a rectangular waveform or quasi-impulsive ones -- | 2015/7/10 | 和田真一(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board (8) -- The effect by application time of external force (3) | 2014/12/19 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board (6) -- The effect by application time of external force -- | 2014/11/30 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(6) ~ 外力の作用時間の効果 ~ | 2014/8/22 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(5) ~ 固有振動数・減衰比(2) ~ | 2014/6/20 | 越田圭治・和田真一・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(4) ~ 固有振動数・減衰比 ~ | 2014/1/31 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(3) ~ 矩形波・正弦波入力時の応答特性 ~ | 2013/12/20 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法 ~ 入力としての矩形波および正弦波の応答特性 ~ | 2013/11/16 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法 ~ 固有振動数と減衰比(2) ~ | 2013/11/16 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28) ~ | 2013/7/12 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27) ~ | 2013/6/21 | 和田真一・越田圭治・益田直樹・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26) ~ | 2012/12/21 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン(TMCシステム)・益田直樹(東京高専)・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・寺崎真志(東京高専)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗変動のモデリング(24) ~ | 2012/7/20 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構の特性に関する基礎的検討(23) ~ | 2012/7/20 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・竹田弘毅・益田直樹・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構の特性に関する基礎的検討(22) ~ | 2012/6/22 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
非線形問題研究会(NLP) | いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗変動のモデリング(2) ~ | 2012/5/29 | 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル (21) ~ | 2012/5/25 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル (20) ~ | 2012/1/20 | 和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル (19) ~ | 2011/12/16 | 和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・益田直樹・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル(17) ~ | 2011/10/21 | 和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル(16) ~ | 2011/7/15 | 和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大) |
機構デバイス研究会(EMD) | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル(15) ~ | 2011/5/20 | 和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大) |
非線形問題研究会(NLP) | いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ~接触抵抗変動のモデリング ~ | 2011/3/11 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・池口徹(埼玉大)・堀尾喜彦(東京電機大)・澤孝一郎(日本工大) |
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