2007年～2010年（研究論文・学会発表）
研究論文・学会発表
| 学会名 | タイトル | 発表年月日 | 著者 |
|---|---|---|---|
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について (14) ～ | 2010/12/17 | 和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(13) ～ | 2010/10/15 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング（9） ～ | 2010/8/26 | 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点劣化現象 ～接触抵抗について(その13) ～ | 2010/7/16 | 和田真一・園田健人・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について（12） ～ | 2010/6/25 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大名誉教授/日本工大 |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～摺動機構のモデリング（1） ～ | 2010/6/25 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング（その8） ～ | 2010/5/21 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング(その7) ～ | 2010/2/19 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗（その11） ～ | 2010/1/22 | 和田真一・サインダーノロブリン・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（日本工大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について（その9） ～ | 2009/12/18 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング(その5) ～ | 2009/10/30 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(その7) ～ | 2009/8/21 | 和田真一・園田健人・越田圭治・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング(その4) ～ | 2009/7/17 | 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(その6) ～ | 2009/6/19 | 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(その5) ～ | 2009/5/22 | 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(その4) ～ | 2009/2/20 | 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(その3) ～ | 2009/1/23 | 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング(その3) ～ | 2008/12/19 | 和田真一・越田圭治・園田健人・小林千晴・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大 |
| 機構デバイス研究会（EMD） | 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ～3D加振機構の加振特性 ～ | 2008/10/17 | 和田真一・越田圭治・峯岸寛人・園田健人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について(その2) ～ | 2008/8/28 | 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング(その2) ～ | 2008/7/18 | 和田真一・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大 |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗について ～ | 2008/6/27 | 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ～3D加振機構の基本特性 ～ | 2008/5/16 | 和田真一・天尾裕・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大) |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振機構のモデリング ～ | 2008/4/18 | 和田真一・越田圭治・峯岸寛人・天尾裕士・園田健人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振装置試作 ～ | 2008/2/15 | 和田真一・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・園田健人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～測定データとその考察 ～ | 2008/1/25 | 和田真一・園田健人・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎・古賀圭・西岡亮（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～接触抵抗の変化 ～ | 2007/12/21 | 和田真一・園田健人・天尾裕士・越田圭治・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎・古賀圭・西岡亮（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～摺動接触機構との比較 ～ | 2007/10/19 | 和田真一・園田健人・天尾裕士・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎・古賀圭（慶大） |
| 機構デバイス研究会（EMD） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～加振装置試作 ～ | 2007/4/20 | 和田真一・園田健人・片桐要祐・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤孝一郎（慶大） |
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